Transiente Fehler in Mikroprozessoren

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und Motivation.- Grundlagen.- Simulations- und Synthesemethodik.- Dynamische Fehlerentdeckung und -behebung.- Überblick und Fazit.
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Details

  • ISBN: 9783834892782
  • Seitenzahl: 265
  • Kopierschutz: Wasserzeichen
  • Erscheinungsdatum: 13.02.2009
  • Verlag: VIEWEG & TEUBNER
  • Sprache: Deutsch
  • Formate: pdf