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Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy

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Jae Hoon KimJae Hoon Kim
Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik
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Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik

Chapter 1 Device Stability and Photo-Excited Charge-Collection Spectroscopy.- Chapter 2 Instrumentations for PECCS.- Chapter 3 PECCS measurements in Organic FETs.- Chapter 4 PECCS measurements in Oxide FETs.- Chapter 5 PECCS measurements in Nanostructure FETs.- Chapter 6 Summary and limiting factors of PECCS.

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Chapter 1 Device Stability and Photo-Excited Charge-Collection Spectroscopy.- Chapter 2 Instrumentations for PECCS.- Chapter 3 PECCS measurements in Organic FETs.- Chapter 4 PECCS measurements in Oxide FETs.- Chapter 5 PECCS measurements in Nanostructure FETs.- Chapter 6 Summary and limiting factors of PECCS.

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Details

  • ISBN: 9789400763920
  • Seitenzahl: 101
  • Kopierschutz: Wasserzeichen
  • Erscheinungsdatum: 08.07.2014
  • Verlag: SPRINGER
  • Sprache: Englisch
  • Formate: pdf

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